[发明专利]一种三维存储结构在审
申请号: | 201810416505.4 | 申请日: | 2018-05-03 |
公开(公告)号: | CN108666320A | 公开(公告)日: | 2018-10-16 |
发明(设计)人: | 谢岩;丁振宇;刘选军 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/11556 | 分类号: | H01L27/11556;H01L27/11521;H01L27/11568;H01L27/11582;H01L27/11526;H01L27/11573 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种三维存储结构,包括一衬底;衬底上形成阵列式的多个凹槽;每个凹槽中形成有一个存储单元结构:每个存储单元结构包括:环形且垂直的柱状沟道层,用于连接一源极和一漏极;上下相互间隔的多个控制栅极层,且每个控制栅极层均环绕柱状沟道层;环形且垂直的柱状隔离层,用于将柱状沟道层与每个控制栅极层隔离;其中,每个存储单元结构中形成有用于连接柱状沟道层的第一接触孔,以及用于分别连接每个控制栅极层的每个第二接触孔;能够避免在形成存储结构的晶圆内形成应力集中的情况,有利于保证晶圆产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 控制栅极层 存储单元结构 三维存储结构 柱状沟道 垂直的 沟道层 接触孔 衬底 半导体技术领域 存储结构 晶圆产品 应力集中 隔离层 环绕柱 连接柱 阵列式 晶圆 良率 漏极 源极 柱状 隔离 保证 | ||
【主权项】:
1.一种三维存储结构,其特征在于,包括一衬底;所述衬底上形成阵列式的多个凹槽;每个所述凹槽中形成有一个存储单元结构:每个所述存储单元结构包括:环形且垂直的柱状沟道层,用于连接一源极和一漏极;上下相互间隔的多个控制栅极层,且每个所述控制栅极层均环绕所述柱状沟道层;环形且垂直的柱状隔离层,用于将所述柱状沟道层与每个所述控制栅极层隔离;其中,每个所述存储单元结构中形成有用于连接所述柱状沟道层的第一接触孔,以及用于分别连接每个所述控制栅极层的每个第二接触孔。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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