[发明专利]一种有引线局部镀金方法有效
申请号: | 201810440950.4 | 申请日: | 2018-05-10 |
公开(公告)号: | CN108419377B | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 赵刚俊;纪成光;吕红刚 | 申请(专利权)人: | 生益电子股份有限公司 |
主分类号: | H05K3/24 | 分类号: | H05K3/24 |
代理公司: | 广州知顺知识产权代理事务所(普通合伙) 44401 | 代理人: | 彭志坚 |
地址: | 523127 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种有引线局部镀金方法,包括以下步骤:化学沉铜→板面电镀→第一次外层干膜→蚀刻并褪膜→选择干膜→镀金→褪膜→第二次外层干膜→蚀刻→褪膜。本发明有引线局部镀金方法与现有有引线局部镀金技术相比,成品时完全无引线残留,设计保持与原稿一致;与无引线局部镀金相比,可做到无悬镍,四面包金的要求。 | ||
搜索关键词: | 镀金 干膜 褪膜 蚀刻 次外层 板面电镀 化学沉铜 原稿 四面 残留 | ||
【主权项】:
1.一种有引线局部镀金方法,其特征在于,包括以下步骤:1)压合若干芯板,获得电路板板体;2)在板体表面化学沉铜、电镀;3)第一次外层干膜与蚀刻并褪膜,在板面制作出电路图形与引线,与引线连接的焊盘,以及待镀金区域,其中焊盘外周留有补偿;4)选择干膜覆盖板体表面,将待镀金区域露出,其他区域掩盖,然后镀镍金,以在待镀金区域镀上镍金,然后褪膜;5)第二次外层干膜与蚀刻并褪膜,干膜时将引线位置及相连的焊盘的补偿区域露出,并且干膜对覆盖焊盘的区域做一定补偿,即较焊盘单边伸长覆盖预设量作为补偿,蚀刻并褪膜,以将引线与焊盘的补偿区域蚀刻。
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