[发明专利]驱动晶体管的参数侦测方法及装置、补偿方法有效
| 申请号： | 201810459627.1 | 申请日： | 2018-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN108615505B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 陈燚 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/3233 | 分类号： | G09G3/3233;G09G3/00 |
| 代理公司： | 11274 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 张雨竹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种驱动晶体管的参数侦测方法及装置、补偿方法，涉及显示技术领域，可侦测OLED显示装置中驱动晶体管的K值，并对驱动晶体管的K值进行补偿。一种驱动晶体管的参数侦测方法，所述驱动晶体管除栅极外的第一极与电源电压端电连接，第二极与感应线电连接；所述参数侦测方法包括：对K值进行侦测。其中，对K值进行侦测，包括：建立V | ||
| 搜索关键词： | 驱动晶体管 侦测 电连接 感应线 自变量 电源电压端 曲线拟合 数据电压 第一极 因变量 拟合 充电 | ||
【主权项】：
1.一种驱动晶体管的参数侦测方法，所述驱动晶体管除栅极外的第一极与电源电压端电连接，第二极与感应线电连接；其特征在于，所述参数侦测方法包括：对K值进行侦测；/n其中，对K值进行侦测，包括：/n建立V
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