[发明专利]镀层测量方法和装置有效
| 申请号： | 201810489475.X | 申请日： | 2018-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN108680127B | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 曹鸿章;陶兴荣 | 申请（专利权）人： | 北京核夕菁科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 北京卓唐知识产权代理有限公司 11541 | 代理人： | 唐海力;李志刚 |
| 地址： | 100043 北京市石景山*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种镀层测量方法和装置。所述方法包括对未进行镀层的基板上一测量位置发射第一射线，接收穿过基板的第一射线，确定第一射线的接收强度；对完成镀层的基板上的测量位置发射第二射线，接收穿过基板的第二射线，确定第二射线的接收强度；根据第一射线的接收强度、第二射线的接收强度以及镀层材料对第二射线的吸收系数，确定测量位置上的镀层厚度。本申请解决了现有技术中在带钢镀层生产线上无法精确地确定测量镀层厚度，无法及时验证带钢的镀层厚度是否符合标准的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 镀层 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种镀层测量方法，其特征在于，所述方法包括：对未进行镀层的基板上一测量位置发射第一射线，接收穿过所述基板的所述第一射线，确定所述第一射线的接收强度；对完成镀层的基板上的所述测量位置发射第二射线，接收穿过所述基板的所述第二射线，确定所述第二射线的接收强度；根据所述第一射线的接收强度、所述第二射线的接收强度以及所述镀层材料对所述第二射线的吸收系数，确定所述测量位置上的镀层厚度。
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