[发明专利]用于测试射频元件的测试结构有效
申请号: | 201810492667.6 | 申请日: | 2018-05-22 |
公开(公告)号: | CN110470913B | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 方柏翔;陈冠达;赖佳助 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台湾台中*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于测试射频元件的测试结构,通过于测试设备的传输线的端部套设第一阻抗件,以于测试射频元件时,使该第一阻抗件产生极大阻抗,借此抑制于该传输线的端部所产生的电流与辐射。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 射频 元件 结构 | ||
【主权项】:
1.一种用于测试射频元件的测试结构,且该射频元件设有测试部,其特征在于,该测试结构包括:/n传输线,其端部具有多个外接端口及隔离各该外接端口的绝缘体,且该外接端口上配置有探针件,以令该探针件电性连接该射频元件的测试部;以及/n第一阻抗件,其设于该传输线的端部外侧,其中,该第一阻抗件包含导电部与绝缘部,该绝缘部接触该传输线的端部的外侧,且该导电部设于该绝缘部的外侧并电性连接该传输线。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽品精密工业股份有限公司,未经矽品精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810492667.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。