[发明专利]一种测定ZSM-23分子筛中白硅石相含量的方法有效
| 申请号： | 201810497496.6 | 申请日： | 2018-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN110579497B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 李瑞峰;刘丽莹;包世星 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 高龙鑫;王玉双 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定ZSM‑23分子筛中白硅石相含量的方法，包括如下步骤：S1、制备样品：将待测ZSM‑23分子筛研磨至所需粒径，该所需粒径与选用的白硅石相标样的粒径的差值为±0.5μm～±1.0μm，得到ZSM‑23分子筛样品；将干燥过的干基ZSM‑23分子筛样品m g，与y g白硅石相标样混合，滴加无水乙醇至样品完全湿润，湿磨、干燥后得到混合样品；S2、启动X射线衍射仪；S3、测定试样：测定ZSM‑23分子筛样品、白硅石相标样、混合样品的粉末X射线衍射数据；S4、数据处理。本发明的方法能够采用粉末X射线衍射仪准确测定ZSM‑23分子筛中白硅石相含量，该方法快速、精密、准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 zsm 23 分子筛 硅石 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定ZSM-23分子筛中白硅石相含量的方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1、制备样品/n将待测ZSM-23分子筛研磨至所需粒径，该所需粒径与选用的白硅石相标样的粒径的差值为±0.5μm～±1.0μm，得到ZSM-23分子筛样品；/n将干燥过的干基ZSM-23分子筛样品m g，与y g白硅石相标样混合，滴加无水乙醇至样品完全湿润，湿磨、干燥后得到混合样品；/nS2、启动X射线衍射仪/n启动X射线衍射仪，待仪器稳定后，用硅粉核查仪器，验证仪器综合稳定度≤0.1％；/nS3、测定试样/n测定ZSM-23分子筛样品、白硅石相标样、混合样品的粉末X射线衍射数据，分别采用化学计量学软件，选用PearsonⅦ分峰模型，获取ZSM-23(130)晶面分析线与ZSM-23中白硅石(101)或(111)晶面分析线合强度计数值A
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