[发明专利]一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统有效
| 申请号： | 201810503034.0 | 申请日： | 2018-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN108682442B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘政林;王志强;李四林 | 申请（专利权）人： | 置富科技（深圳）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 | 代理人： | 韩明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统，该方法包括将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片，对闪存芯片进行分类。通过本发明，针对不同类型的闪存芯片，采用相应测试图形(pattern)进行测试，实现对不同封装、不同型号的闪存芯片的测试；且通过对闪存芯片存储块进行分级，根据存储块的分级实现对闪存芯片的分级，获得更准确，更贴合实际数据的闪存芯片分类方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 不同 封装 闪存 芯片 在线 测试 分类 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；步骤2，利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；步骤3，根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片，对闪存芯片进行分类；其中所述的闪存芯片物理量信息包括闪存芯片存储块进行一次操作的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、原始错误比特数；所述的进阶数据包括，一个块中原始错误比特数大于某个数值的总页数、一个块中某些特征页的编程时间集合。
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