[发明专利]一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法有效

专利信息
申请号: 201810513556.9 申请日: 2018-05-25
公开(公告)号: CN108761414B 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 陈慧;贾文凯;胡全;王文钦;邵怀宗;潘晔;廖轶 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G01S7/36;G01S7/40
代理公司: 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 代理人: 李梦蝶
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法,包括如下步骤:S1、根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置,选择雷达测试接收机的安放位置点,即为测试接收点;S2、使频控阵雷达发射机开始发射信号,并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据;S3、根据接收到的发射信号数据,确定各测试接收点的测试数据;S4、根据各测试接收点的空间位置和测试数据,进行频控阵二维波束图的绘制,即拟合出S形干扰波束。本发明解决了现有技术存在的实用性低、隐蔽性低、测试效率低、实施成本昂贵和资金投入大的问题。
搜索关键词: 一种 基于 频控阵 干扰 波束 测试 方法
【主权项】:
1.一种基于频控阵的S形干扰波束测试方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:选择测试接收点:根据频控阵雷达发射机的预设S形干扰波束在空间中的分布位置,选择雷达测试接收机的安放位置点,即为测试接收点;S2:接收发射信号数据:使频控阵雷达发射机开始发射信号,并使各测试接收点接收经过该测试接收点的至少一个预设发射周期的所有发射信号数据;S3:确定测试数据:根据接收到的发射信号数据,确定各测试接收点的测试数据;S4:拟合S形干扰波束:根据各测试接收点的空间位置和测试数据,进行频控阵二维波束图的绘制,即拟合出S形干扰波束。
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