[发明专利]通用半导体高速串行信号自动测试方法有效
| 申请号： | 201810518931.9 | 申请日： | 2018-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN108989143B | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 余琨;张志勇;王华;祁建华;罗斌 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根;徐颖 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种通用半导体高速串行信号自动测试方法，被测芯片发出高速串行信号进入阻抗匹配单元，然后通过移相单元使高速串行信号的相位依次按照设定的固定的分辨率进行变换，每次偏移相位的大小由控制单元输出的移相控制信号及移相单元的分辨率决定，经过移相单元后的高速串行信号再通过阻抗匹配单元保持通路阻抗匹配，信号进入采集单元，在控制单元发出的采集控制信号作用下被采集，控制单元与半导体自动测试设备信号交互，采集单元将采集到的信号传回通用半导体自动测试设备经其算法运算后，解析得到实际高速串行信号传输的数据码流。实现通用ATE直接量产测试高速串行接口信号，大大提高了测试便捷性与测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 通用 半导体 高速 串行 信号 自动 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种通用半导体高速串行信号自动测试方法，其特征在于，采集测试芯片输出的高速串行信号，控制单元输出芯片控制信号到被测芯片，被测芯片发出高速串行信号，高速串行信号首次进入阻抗匹配单元，通过阻抗匹配使得整条信号通过进入移相单元，然后通过移相单元使高速串行信号的相位依次按照设定的固定的分辨率进行变换，每次偏移相位的大小由控制单元输出的移相控制信号及移相单元的分辨率决定，经过移相单元后的高速串行信号再通过阻抗匹配单元保持通路阻抗匹配，信号进入采集单元，在控制单元发出的采集控制信号作用下被采集，控制单元与半导体自动测试设备信号交互，采集单元将采集到的信号传回通用半导体自动测试设备经其算法运算后，解析得到实际高速串行信号传输的数据码流。
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