[发明专利]一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法

摘要

本发明公开一种基于JTAG链路的电路板测试系统及测试方法，该系统包括：主控器、通用仪器设备、JTAG链路控制器、第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装；主控器向通用仪器设备、JTAG链路控制器发送测试指令，后两者根据测试指令生成激励信号并发送给被测电路板；JTAG链路控制器可直接将激励信号通过第一JTAG链路芯片发给被测电路板以激励其产生响应信号；或者，间接地将激励信号通过JTAG陪试工装发送给被测电路板以激励其产生响应信号；JTAG链路控制器将比对数字量激励信号及数字量响应信号后的结果发给主控器；通用仪器设备将被测电路板产生的模拟量响应信号发送给主控器；主控器根据比对结果、测试指令及模拟量响应信号判断被测电路板是否正常。

主权项

1.一种基于JTAG链路的电路板测试系统，其特征在于，所述系统包括：主控器、通用仪器设备、JTAG链路控制器、第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装；所述主控器与通用仪器设备、JTAG链路控制器分别连接，用于分别向通用仪器设备、JTAG链路控制器发送测试指令；所述通用仪器设备用于根据主控器发来的测试指令生成模拟量激励信号并发送给被测电路板，以及将被测电路板产生的模拟量响应信号发送给主控器；JTAG陪试工装与被测电路板通过数字I/O口连接，数字I/O口用于在被测电路板与JTAG陪试工装之间传递数字量信号；所述JTAG链路控制器分别连接第一JTAG链路芯片及JTAG陪试工装，用于根据主控器发来的测试指令生成数字量激励信号，并发送给嵌设在被测电路板中的第一JTAG链路芯片以激励被测电路板产生响应信号，再串行地读取所述JTAG陪试工装的输出以获取被测电路板数字量响应信号；或者，所述JTAG链路控制器将所述数字量激励信号通过JTAG陪试工装发送给被测电路板以激励被测电路板产生响应信号，再由JTAG链路控制器串行地读取所述第一JTAG链路芯片的输出以获取被测电路板的数字量响应信号；所述JTAG链路控制器还用于比对所述数字量激励信号及数字量响应信号，并将比对结果返回给主控器；所述主控器还用于根据所述比对结果、所述测试指令及模拟量响应信号判断被测电路板是否正常，并生成测试结果。