[发明专利]双大马士革通孔工艺的返工方法有效

专利信息
申请号: 201810544851.0 申请日: 2018-05-31
公开(公告)号: CN108565216B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 李镇全 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: H01L21/312 分类号: H01L21/312;H01L21/768
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 郭四华
地址: 201315 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种双大马士革通孔工艺的返工方法,包括如下步骤:步骤一、双大马士革的通孔穿过第一低K介质层,在第一低K介质层上形成有第二DARC层,在第二DARC层的表面上形成有图形化的第三金属硬掩模层;在形成有第三金属硬掩模层的第二DARC层上涂布由ODL层、SHB层和PR层叠加而成的基于涂层的用于定义通孔的三层结构。步骤二、进行通孔的光刻显影。步骤三、进行显影后检测,在显影后检测超范围时进行去除三层结构的返工工艺;返工工艺中PR层、SHB层和ODL层都采用干法刻蚀工艺去除且是在同一干法刻蚀设备中依次去除。本发明能减少返工工艺的步骤,提高返工效率和质量。
搜索关键词: 大马士革 工艺 返工 方法
【主权项】:
1.一种双大马士革通孔工艺的返工方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、双大马士革的通孔穿过第一低K介质层,在所述第一低K介质层上形成有第二DARC层,在所述第二DARC层的表面上形成有图形化的第三金属硬掩模层;定义所述通孔的掩模结构包括基于涂层的三层结构,三层结构分别为ODL层、SHB层和PR层;在形成有所述第三金属硬掩模层的所述第二DARC层上涂布所述三层结构;步骤二、进行所述通孔的光刻显影,显影后的所述PR层中将所述通孔的形成区域打开;步骤三、进行显影后检测,在所述显影后检测超范围时进行去除所述三层结构的返工工艺;去除所述三层结构的返工工艺中所述PR层、所述SHB层和所述ODL层都采用干法刻蚀工艺去除且是在同一干法刻蚀设备中依次去除。
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