[发明专利]一种C/C-Si复合材料表面生长辐射状纳米线及在常温下的制备方法有效
申请号: | 201810553797.6 | 申请日: | 2018-06-01 |
公开(公告)号: | CN108585954B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 郭领军;霍彩霞;王昌聪;周磊;李凯娇 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | C04B41/89 | 分类号: | C04B41/89 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 王鲜凯 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种C/C‑Si复合材料表面生长辐射状纳米线及在常温下的制备方法,利用包埋法在真空加热炉中在碳/碳复合材料表面制备硅涂层,然后对C/C‑Si复合材料采用浓硫酸与双氧水混合溶液浸润后,将C/C‑Si复合材料表面放入单分散聚苯乙烯微球溶液中,经干燥后在喷金溅射仪中喷金。随后将C/C‑Si复合材料放入由去离子水,丙三醇,双氧水和氢氟酸按不同体积分数组成的混合溶液中刻蚀不同的时间。获得常温下在C/C‑Si复合材料表面辐射状生长的Si纳米线。本发明的纳米线是从C/C‑Si复合材料表面生长出来的辐射状纳米线,可以提高内涂层与外涂层之间的结合力,缓解热膨胀失配。可以减少碳/碳复合材料多次高温处理造成的力学性能下降,能够有效保护碳/碳复合材料。 | ||
搜索关键词: | 一种 si 复合材料 表面 生长 辐射状 纳米 常温 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种C/C‑Si复合材料表面生长辐射状纳米线,其特征在于:沿垂直于Si颗粒晶面方向生长的辐射状纳米线,纳米线的直径为500‑2700nm,长度为22‑88μm。
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