[发明专利]快速访问寄存器和表项的验证方法、装置和验证设备有效
| 申请号： | 201810562043.7 | 申请日： | 2018-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN108829592B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 田晓旭;刘冬培;沈剑良;徐庆阳;刘勤让;朱珂;吕平;宋克;张丽;丁青子;黑建平;杨晓龙;杨堃;汪欣;丁旭;汤先拓 | 申请（专利权）人： | 天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F13/16;G06F30/3308;G06F115/06 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种快速访问寄存器和表项的验证方法、装置和验证设备，涉及集成电路验证技术领域，预先将待验证的集成电路划分成第一模块和第二模块，第一模块为设计中功能稳定的部分，第二模块为设计中功能不稳定的部分；该方法包括：为第一模块和第二模块分别构建第一测试系统和第二测试系统；第一测试系统通过集成电路的外部接口与第一模块连接，第二测试系统通过集成电路的内部接口与第二模块连接；对第一测试系统和第二测试系统分别构造测试用例；在第一测试系统和第二测试系统上分别运行对应的测试用例，并得到仿真结果。本发明实施例可以加快访问寄存器和表项的速度，提高仿真速度节省时间。 | ||
| 搜索关键词： | 快速 访问 寄存器 验证 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种快速访问寄存器和表项的验证方法，其特征在于，预先将待验证的集成电路划分成第一模块和第二模块，所述第一模块为设计中功能稳定的部分，所述第二模块为设计中功能不稳定的部分；所述方法包括：为第一模块和第二模块分别构建第一测试系统和第二测试系统；所述第一测试系统通过所述集成电路的外部接口与所述第一模块连接，所述第二测试系统通过所述集成电路的内部接口与所述第二模块连接；对所述第一测试系统和所述第二测试系统分别构造测试用例；在所述第一测试系统和所述第二测试系统上分别运行对应的所述测试用例，并得到仿真结果。
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