[发明专利]具有鳍和栅极结构的集成电路及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201810569858.8 申请日: 2018-06-05
公开(公告)号: CN109427784B 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 江国诚;蔡腾群;程冠伦;王志豪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明的实施例提供了半导体结构及其制造方法。该半导体结构包括形成在衬底上的器件鳍;形成在衬底上并且设置在器件鳍之中的填充鳍;以及形成在器件鳍和填充鳍上的栅极堆叠件。填充鳍包括第一介电材料层和沉积在第一介电材料层上的第二介电材料层。第一和第二介电材料层的组成彼此不同。
搜索关键词: 具有 栅极 结构 集成电路 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:器件鳍,形成在衬底上;填充鳍,形成在所述衬底上并且设置在所述器件鳍之中,所述填充鳍包括第一介电材料层和沉积在所述第一介电材料层上的第二介电材料层,其中,所述第一介电材料层和所述第二介电材料层的组成彼此不同;以及栅极堆叠件,形成在所述器件鳍和所述填充鳍上。
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