[发明专利]一种用于半导体溅射靶材的高纯钛锭开坯锻造方法有效

专利信息
申请号: 201810571988.5 申请日: 2018-06-04
公开(公告)号: CN108746448B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 吴景晖;姚力军;杜全国;雷孝吕;李红洋 申请(专利权)人: 宁波创润新材料有限公司
主分类号: B21J5/00 分类号: B21J5/00;B21J1/06;C23C14/34;C22F1/18
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 严罗一
地址: 315460 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种用于半导体溅射靶材的高纯钛锭开坯锻造方法,包括以下步骤:步骤S1、铸锭准备;步骤S2、对经所述步骤S1得到的所述铸锭进行第一次加热;步骤S3、对经所述步骤S2加热后的所述铸锭进行开坯锻造得到坯料;步骤S4、对经所述步骤S3得到的所述坯料进行降温;步骤S5、对经所述步骤S4得到的所述坯料进行第二次加热;步骤S6、对经所述步骤S5加热后的所述坯料进行第二次锻造得到二次坯料;步骤S7、对经所述步骤S6得到的所述二次坯料进行第二次降温;步骤S8、对经所述步骤S7得到的所述二次坯料进行第三次加热;步骤S9、对经所述步骤S8得到的所述二次坯料进行锻造成型。其优点在于,高纯钛锭产品表面颗粒细腻均匀、无残留,符合靶材生产要求。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 溅射 高纯 钛锭开坯 锻造 方法
【主权项】:
1.一种用于半导体溅射靶材的高纯钛锭开坯锻造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、铸锭准备,对铸锭进行修磨;步骤S2、对经所述步骤S1得到的所述铸锭进行第一次加热;步骤S3、对经所述步骤S2加热后的所述铸锭进行开坯锻造得到坯料;步骤S4、对经所述步骤S3得到的所述坯料进行降温;步骤S5、对经所述步骤S4得到的所述坯料进行第二次加热;步骤S6、对经所述步骤S5加热后的所述坯料进行第二次锻造得到二次坯料;步骤S7、对经所述步骤S6得到的所述二次坯料进行第二次降温;步骤S8、对经所述步骤S7得到的所述二次坯料进行第三次加热;步骤S9、对经所述步骤S8加热后的所述二次坯料进行锻造成型。
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