[发明专利]包括电容测量电路的半导体装置在审
申请号: | 201810594249.8 | 申请日: | 2018-06-11 |
公开(公告)号: | CN109521279A | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 金世焕;金京兑;朴宰范 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 李少丹;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 半导体装置可以包括电容测量电路。电容测量电路可以包括被配置为输出恒定电流的恒定电流电路。电容测量电路可以包括电压转换电路,该电压转换电路被配置为将恒定电流转换为检测电压,并且补偿由于电压转换电路的内部泄漏电流引起的检测电压的变化。电容测量电路可以包括代码发生电路,该代码发生电路被配置为将通过检测在检测电压增加到参考电压时所经过的时间而获得的值产生为代码信号。 | ||
搜索关键词: | 电容测量电路 电压转换电路 检测电压 代码发生电路 半导体装置 配置 恒定电流电路 参考电压 代码信号 恒定电流 输出恒定 泄漏电流 检测 转换 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:电容测量电路,其包括:恒定电流电路,其被配置为输出恒定电流;电压转换电路,其被配置为将恒定电流转换成检测电压,并且补偿由于电压转换电路的内部泄漏电流引起的检测电压的变化;以及代码发生电路,其被配置为将通过检测在检测电压增加到参考电压时所经过的时间而获得的值产生为代码信号。
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