[发明专利]智能卡加工装置及智能卡加工方法在审
申请号: | 201810657143.8 | 申请日: | 2018-06-21 |
公开(公告)号: | CN108878320A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 黎理明;鲍伟海;黎理杰 | 申请(专利权)人: | 深圳源明杰科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;G01D21/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种智能卡加工装置及智能卡加工方法,用于将智能卡的卡片和硅胶片进行压合,所述硅胶片上设有第一通气孔,所述智能卡加工装置包括安装台、驱动件、抽真空组件、空气检测装置及供硅胶片预定位的安装板;安装台具有供卡片定位的定位部,安装板设于驱动件的驱动端,且对应定位部的位置设置,驱动件驱动安装板靠近或者远离定位部运动,安装板具有靠近定位部的第一位置,且在该第一位置时,安装板将硅胶片与卡片压合;抽真空组件设置于所述安装台上,用于在硅胶片与卡片压合后,对硅胶片与卡片之间的密封空间进行抽真空;空气检测装置设置在安装台上,用于检测硅胶片与卡片之间的密封空间进行抽真空之后的真空,确定智能卡是否被铣穿。本发明中不仅能够准确判断卡片是否被铣穿,且相对于利用光电传感器检测的方式成本低。 | ||
搜索关键词: | 硅胶片 智能卡 卡片 安装板 定位部 加工装置 驱动件 压合 空气检测装置 抽真空组件 第一位置 密封空间 安装台 抽真空 光电传感器检测 驱动安装板 方式成本 驱动端 通气孔 预定位 加工 检测 | ||
【主权项】:
1.一种智能卡加工装置,用于将智能卡的卡片和硅胶片进行压合,所述硅胶片上设有第一通气孔,其特征在于,所述智能卡加工装置包括安装台、驱动件、抽真空组件、空气检测装置及供硅胶片预定位的安装板;所述安装台具有供卡片定位的定位部,所述安装板设于所述驱动件的驱动端,且对应所述定位部的位置设置,所述驱动件驱动所述安装板靠近或者远离所述定位部运动,所述安装板具有靠近所述定位部的第一位置,且在该第一位置时,所述安装板将所述硅胶片与卡片压合;所述抽真空组件设置于所述安装台上,用于在所述硅胶片与卡片压合后,对所述硅胶片与卡片之间的密封空间进行抽真空;所述空气检测装置设置在所述安装台上,用于检测所述硅胶片与卡片之间的密封空间进行抽真空之后的真空,确定智能卡是否被铣穿。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳源明杰科技股份有限公司,未经深圳源明杰科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810657143.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种旋转蚀刻装置及湿法刻蚀机台
- 下一篇:一种半导体晶圆清洗用节能快排冲水槽
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造