[发明专利]一种压电陶瓷压电微位移测量方法在审
| 申请号： | 201810660010.6 | 申请日： | 2018-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN108981577A | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 纪飞飞;郑爱权;王洪磊;许红伍 | 申请（专利权）人： | 苏州健雄职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 刘小峰 |
| 地址： | 215411 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种压电陶瓷压电微位移测量方法，方法包括如下步骤：1)采用静态大倍率显微成像装置，将压电陶瓷静止放置在镜头下方；2)通过静态大倍率显微成像装置采集压电陶瓷的初始状态、升压状态和降压状态下的图像信息；3)通过初始状态下图像分别与升压状态图像和降压状态图像进行对比，测量其位移距离，通过将升压状态位移与降压状态位移相减得出压电陶瓷迟滞效应位移量。采用本方法能够快捷方便的进行测量，极大的节约了测量成本，提高了测量效率，并且可以直观的验证或展示压电陶瓷迟滞特性效果。 | ||
| 搜索关键词： | 压电陶瓷 降压状态 升压状态 显微成像装置 微位移测量 大倍率 图像 压电 测量 测量成本 测量效率 迟滞特性 静止放置 图像信息 位移距离 位移量 迟滞 相减 验证 直观 采集 镜头 节约 展示 | ||
【主权项】：
1.一种压电陶瓷压电微位移测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：1)采用静态大倍率显微成像装置，将压电陶瓷静止放置在镜头下方；2)通过所述静态大倍率显微成像装置采集压电陶瓷的初始状态、升压状态和降压状态下的图像信息；3)通过初始状态下图像分别与升压状态图像和降压状态图像进行对比，测量其位移距离，通过将升压状态位移与降压状态位移相减得出压电陶瓷迟滞效应位移量。
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