[发明专利]综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法有效
| 申请号： | 201810662435.0 | 申请日： | 2018-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN110632356B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 杨超 | 申请（专利权）人： | 大唐联仪科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R3/00 | 分类号： | G01R3/00;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100082 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种综合测试仪生成阶段快速校准系统及方法，系统包括：处理设备，用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；综合测试仪，用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号；射频仪，用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备；处理设备，还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值，达到自动测试，优化测试流程，减少仪器间交互次数，提高综合测试仪的生产效率及降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 综合 测试仪 生成 阶段 快速 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种综合测试仪生成阶段快速校准系统，其特征在于，包括处理设备、综合测试仪和射频仪，其中：/n所述处理设备，用于配置第一测试信息序列表和第二测试信息序列表，并将所述第一测试信息序列表发送给所述综合测试仪，将所述第二测试信息序列表发送给所述射频仪；/n所述综合测试仪，用于根据所述第一测试信息序列表依序向所述射频仪发送功率信号，所述第一测试信息序列表包括校准频点以及每个校准频点对应的校准功率值；/n所述射频仪，用于根据所述第二测试信息序列表依序对所述功率信号进行分析获得测试功率值，并将所述测量功率值发送给所述处理设备，所述第二测试信息序列表包括校准频点；/n所述处理设备，还用于根据所述测量功率值与对应的所述校准功率值获得增益补偿值；/n其中，所述第一测试信息序列表中的校准频点和所述第二测试信息序列表中的校准频点相同。/n
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