[发明专利]测量显示面板亮度的方法在审
| 申请号： | 201810663659.3 | 申请日： | 2018-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN108873404A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 陈黎暄 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;王中华 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量显示面板亮度的方法。所述测量显示面板亮度的方法包括如下步骤：提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；用所述亮度测量设备测量所述显示面板的目标测量区域的亮度，通过掩膜板遮挡显示面板的目标测量区域以外的区域，能够实现利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。 | ||
| 搜索关键词： | 显示面板 亮度测量设备 目标测量 透光区 测量显示面板 掩膜板遮挡 测量 掩膜板 非发光区域 子像素区域 定位显示 区域对位 位置提供 遮光区 漏光 暴露 便利 分析 | ||
【主权项】：
1.一种测量显示面板亮度的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供显示面板(1)、掩膜板(2)及亮度测量设备(3)，所述掩膜板(2)包括至少两个透光区(21)及位于各个透光区(21)四周的遮光区(22)，所述亮度测量设备(3)的最小测量面积大于每一个透光区(21)的面积且小于各个透光区(21)的面积之和；步骤S2、用所述掩膜板(2)遮挡所述显示面板(1)，并使得所述透光区(21)与所述显示面板(1)的目标测量区域(11)对位，以暴露出所述显示面板(1)的目标测量区域(11)；步骤S3、用所述亮度测量设备(3)测量所述显示面板(1)的目标测量区域(11)的亮度。
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