[发明专利]印花面料纬斜测量方法及装置有效
| 申请号： | 201810674590.4 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN108709503B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 张战旗;孙晓敏;刘桂杰;庞云蛟;张立奎;邢俊峰;刘圆圆 | 申请（专利权）人： | 鲁丰织染有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 37212 青岛发思特专利商标代理有限公司 | 代理人： | 耿霞 |
| 地址： | 255100 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及印花面料纬斜测量方法及装置，属于纺织印染技术领域。本发明的目的在于提高印花面料纬斜检验效率，避免常规测量纬斜造成的面料浪费，优化测量流程，可更快、更准确、更经济的测量出印花面料的纬斜。本发明印花面料纬斜测量方法，包括以下步骤：(1)投射；(2)设定基准；(3)设定偏移；(4)测量；(5)计算。本发明印花面料纬斜测量装置，设置在验布机的验布台上，包括：光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线与待测布面印花的纵向边界间距。 | ||
| 搜索关键词： | 纬斜 印花面料 测量 测量方法及装置 投射 纵向测距装置 布面幅宽 测距装置 测量流程 测量偏移 测量装置 常规测量 纺织印染 水平光线 纵向边界 布面 验布机 偏移 纬向 验布 光源 面料 检验 优化 | ||
【主权项】：
1.一种印花面料纬斜测量方法，该方法所使用的装置设置在验布机的验布台上，包括光源，用于投射纬向水平光线；横向测距装置，用于测量布面幅宽；纵向测距装置，用于测量偏移线(2)与待测布面印花的纵向边界间距，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)投射，投射纬向水平光线至验布面；/n(2)设定基准，设定一条纬向水平光线作为基准线(1)，基准线(1)与待测印花纵向边界最低端对齐；/n(3)设定偏移，设定另一条纬向水平光线作为偏移线(2)，使偏移线(2)与基准线(1)的间距与布面印花未出现偏移时的纵向边界间距相同；/n(4)测量，测量布面幅宽c和偏移距离a，偏移距离a为待测布面印花边界最高点到偏移线(2)的垂直距离；/n(5)计算，计算纬斜
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