[发明专利]一种测试激励分段及编码方法有效
申请号: | 201810710712.0 | 申请日: | 2018-07-03 |
公开(公告)号: | CN109116211B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 陈传东;魏榕山 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;H03M7/04 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350108 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种测试激励分段及编码方法。该编码方法包括测试激励分段和分段数据编码方式;首先,将测试激励进行均匀分段操作,而后,根据每一分段的测试数据之间的相容性,将每一分段的每8位数据编码为5位数据。本发明可以减少测试激励并行输入需要占用的芯片输入端口数量,还可以降低测试激励的传输时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 激励 分段 编码 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测试激励分段及编码方法,其特征在于,将测试激励进行均匀分段操作,而后,根据每一分段的测试数据之间的相容性,将每一分段的8位数据编码为5位数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学,未经福州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810710712.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:评价高压环境对临近器件特性影响的测试方法
- 下一篇:一种主板测试机