[发明专利]测试系统及其操作方法有效
| 申请号： | 201810717826.8 | 申请日： | 2018-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN109961823B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 范恭鸣 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/56 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 郑特强;黄艳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本公开提供一种动态随机存取记忆体(dynamic random access memory，DRAM)的测试系统。该DRAM包括一阵列。该阵列包括一第一记忆列、一第二记忆列、一测试胞。该第一记忆列包括一第一字元线以及该第二记忆列包括一第二字元线。该第二字元线紧邻该第一字元线。该测试胞受控于该第二字元线。该测试系统包括一工作站。该工作站经配置以基于该测试胞的一漏电荷，评估该第二记忆列上的一列锤子效应，其中该漏电荷是由施加到该第一字元线的一脉冲的一AC成分引起。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种动态随机存取记忆体的测试系统，该动态随机存取记忆体包括一阵列，该阵列包括一第一记忆列、一第二记忆列、一测试胞，该第一记忆列包括一第一字元线以及该第二记忆列包括一第二字元线，该第二字元线紧邻该第一字元线，该测试胞受控于该第二字元线，该测试系统包括：一工作站，经配置以基于该测试胞的一漏电荷，评估该第二记忆列上的一列锤子效应，该漏电荷是由施加到该第一字元线的一脉冲的一AC成分引起。
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