[发明专利]天线近场测试方法及装置

摘要

一种天线近场测试方法及装置，该天线近场测试装置包括264个呈球形分布的探头，264个探头分布在球坐标的θ轴和Φ轴分别间隔15°的位置，该测试方法包括：当获取到测量天线产品发射机的信号时，控制264个探头同时启动，以获取每个探头检测的第一数据；根据第一数据计算所述发射机的辐射功率；当获取到测量天线产品接收机的信号时，控制60个目标位置的探头同时启动，以获取每个所述目标位置的所述探头检测的第二数据，所述60个目标位置分布在所述球坐标的θ轴和Φ轴上间隔30°的位置；根据所述第二数据计算所述接收机的灵敏度。本发明实施例中排除了人为的摆放位置，捆绑手法不同，转台速度快慢等对测试结果的影响，其测试速度快，且测试结果精确。

主权项

1.一种天线近场测试方法，其特征在于，应用于天线近场测试装置中，所述天线近场测试装置用于对一天线产品的辐射性能进行测试，该天线近场测试装置包括264个呈球形分布的探头，所述264个探头分布在球坐标的θ轴和Φ轴分别间隔15°的位置，所述方法包括：当获取到测量所述天线产品发射机的信号时，控制264个探头同时启动，以获取每个所述探头检测的第一数据，并根据所述第一数据计算所述发射机的辐射功率；和/或，当获取到测量所述天线产品接收机的信号时，控制所述264个探头中与60个目标位置对应的所述探头同时启动，以获取每个所述目标位置的所述探头检测的第二数据，并根据所述第二数据计算所述接收机的灵敏度，所述60个目标位置为分布在所述球坐标的θ轴和Φ轴上间隔30°的位置。