[发明专利]一种共源共栅级联结构的氮化镓器件有效

专利信息
申请号: 201810770430.X 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN109244057B 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 孙辉;胡腾飞;刘美华;林信南;陈东敏 申请(专利权)人: 北京大学深圳研究生院
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L25/18
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 郭燕;彭家恩
地址: 518055 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种封装基板及基于该基板形成的共源共栅氮化镓器件,该封装基板包括基板本体,基板本体的一个端面印制器件线路铜层,另一个端面印制热排气铜层,器件线路铜层包括第一铜层面和第二铜层面,第一铜层面和第二铜层面之间电气隔离;热排气铜层上设置有若干条延伸到基板边界的间隙。本发明优化了封装基板的结构和器件线路铜层的相对位置,改变封装基板器件线路铜层和硅器件及GaN器件的连线关系,不仅实现了共源共栅氮化镓器件的同侧Gate、Drain、Source顺序的管脚排布,同时,也把其中起主要的作用的共源寄生电感优化到了最小值。
搜索关键词: 一种 共源共栅 级联 结构 氮化 器件
【主权项】:
1.一种封装基板,其特在于,包括基板本体(1),基板本体(1)的一个端面印制器件线路铜层,另一个端面印制热排气铜层(4),所述器件线路铜层包括第一铜层面(2)和第二铜层面(3),所述第一铜层面(2)和第二铜层(3)面之间电气隔离;所述热排气铜层(4)上设置有若干条延伸到基板边界的间隙。
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