[发明专利]液晶滴下量安全范围下限的确定方法有效
| 申请号： | 201810804384.0 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN109031808B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 舒晖;许小杰;张庞岭;王醉;邵冬梅 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1341 | 分类号： | G02F1/1341 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;阳志全 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶滴下量安全范围下限的确定方法，包括：利用非线性静力学分析模型，建立液晶盒的几何模型，所述液晶盒不包括液晶；将液晶盒的几何模型置于标准大气压下；通过静力学分析，计算标准大气压下，液晶盒受压不再发生形变后的上基板、下基板之间间距；计算液晶盒受压不再发生形变时液晶盒内的容纳空间的体积，即为液晶滴下量安全范围下限。本发明通过对低温环境下产品内部结构受力情况进行仿真模拟，从而计算得出产品的液晶滴下量安全范围下限，可以在液晶盒设计定版前就能预测液晶量安全范围下限，从而可以减少实验次数，节省开发成本，加快开发进度。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 滴下 安全 范围 下限 确定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种液晶滴下量安全范围下限的确定方法，其特征在于，包括：利用非线性静力学分析模型，建立液晶盒的几何模型，所述液晶盒不包括液晶；将液晶盒的几何模型置于标准大气压下；通过静力学分析，计算标准大气压下，液晶盒受压不再发生形变后的上基板、下基板之间间距；计算液晶盒受压不再发生形变时液晶盒内的容纳空间的体积，即为液晶滴下量安全范围下限。
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