[发明专利]一种半导体激光器脉冲驱动测试方法有效
| 申请号： | 201810809210.3 | 申请日： | 2018-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN110749782B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 刘洪武;汤庆敏;刘存志;周莉 | 申请（专利权）人： | 潍坊华光光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 261061 山东省潍坊市高*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，包括如下步骤：T1时间段进行脉冲峰值测试，主要测试激光器的的抗大电流冲击性能。T2时间段为高频测试，主要是测试激光器在高频率下可靠性性能，T3时间段测试是进行LD可靠性分析，是用于T1阶段和T2阶段测试激光器管子性能后，用于长期考评或是按照客户反馈的数据进行调整。通过三个阶段的测试可以对激光器的各项性能实现一个完整可靠的测试，提高了激光器测试的准确性和全面性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 脉冲 驱动 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于，包括如下步骤：/na)在T1时间段内半导体激光器老化测试仪自0时刻起向激光器输出N个等频率的脉冲信号，T1时间段每个脉冲信号的输出时的时间为X
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