[发明专利]一种芯片量产测试系统和方法在审
| 申请号： | 201810835007.3 | 申请日： | 2018-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN108732487A | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 蒋松鹰;姚炜;顾彬;杜黎明 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 200233 上海市徐汇*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片量产测试系统和方法，包括硬核处理器系统单元、乒乓缓存单元和向量比较单元；硬核处理器系统单元用于从外置存储器中读取测试向量数据；乒乓缓存单元用于从硬核处理器系统单元中高速读取测试向量数据，对读取的测试向量数据进行缓存，并将测试向量数据低速输出至向量比较单元；向量比较单元用于接收乒乓缓冲单元输出的测试向量数据，将接收的测试向量数据输出至待测芯片，并接收待测芯片产生的期待向量数据，将期待向量数据与测试向量数据进行对比后，产生待测芯片的测试结果。由于外置存储器的存储空间较大，因此，可以解决FPGA内置的RAM无法存放下测试向量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试向量 向量数据 处理器系统 待测芯片 硬核 外置存储器 测试系统 读取测试 乒乓缓存 向量比较 量产 读取 缓存 芯片 比较单元 存储空间 缓冲单元 数据输出 输出 和向量 中高速 内置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片量产测试系统，其特征在于，包括硬核处理器系统单元、乒乓缓存单元和向量比较单元；所述硬核处理器系统单元用于从外置存储器中读取测试向量数据；所述乒乓缓存单元用于从所述硬核处理器系统单元中高速读取测试向量数据，对读取的所述测试向量数据进行缓存，并将所述测试向量数据低速输出至所述向量比较单元；所述向量比较单元用于接收所述乒乓缓冲单元输出的测试向量数据，将接收的所述测试向量数据输出至待测芯片，并接收所述待测芯片产生的期待向量数据，将所述期待向量数据与所述测试向量数据进行对比后，产生所述待测芯片的测试结果。
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