[发明专利]半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 201810837592.0 申请日: 2018-07-26
公开(公告)号: CN109326570B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 张嘉诚;林子闳;彭逸轩;刘乃玮 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/498
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体封装结构,包括:封装基板,具有第一表面和与所述第一表面相对的第二表面;至少一个半导体晶粒,位于所述封装基板的第一表面上并由封装层围绕;盖结构,围绕所述封装层并与所述封装层间隔开;其中所述盖结构包括第一开口,所述第一开口由所述封装基板的第一表面所覆盖;第一电子部件,位于所述封装基板的第一表面上方,并设置在所述盖结构的第一开口之内。这样电子部件不会占用封装基板的第一表面上的额外位置,因此盖结构不必为了给电子部件让出空间而缩小宽度,盖结构的宽度可以更大,因此盖结构可以更大面积的覆盖封装基板,并且增强了盖结构的结构强度,从而可以更好的防止在制造半导体封装结构期间的封装翘曲。
搜索关键词: 半导体 封装 结构
【主权项】:
1.一种半导体封装结构,其特征在于,包括:封装基板,具有第一表面和与所述第一表面相对的第二表面;至少一个半导体晶粒,位于所述封装基板的第一表面上并由封装层围绕;盖结构,围绕所述封装层并与所述封装层间隔开;其中所述盖结构包括第一开口,所述第一开口由所述封装基板的第一表面所覆盖;第一电子部件,位于所述封装基板的第一表面上方,并设置在所述盖结构的第一开口之内。
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