[发明专利]存储器系统和存储器模块的操作方法以及存储器控制器在审
| 申请号： | 201810845313.5 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN109308228A | 公开（公告）日： | 2019-02-05 |
| 发明（设计）人： | 边喜冲;李承勋;李善雨 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G06F3/06;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 张帆;赵南 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明可提供一种存储器模块、一种校正存储器模块的错误的方法和一种存储器系统。所述存储器系统包括多个存储器芯片和存储关于所述多个存储器芯片的DQ组管理信息的存储器控制器。存储器控制器可包括：错误校正码(ECC)引擎，其连接至所述多个存储器芯片中的每一个的DQ接触点，ECC引擎被构造为关于被发送至DQ接触点的数据执行数据校正算法；以及DQ组管理器，其被构造为将DQ接触点分组为对应于校正数据宽度的DQ组，并且存储用于管理DQ组的DQ组管理信息。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器控制器 存储器系统 存储器芯片 接触点 存储器模块 组管理信息 存储 错误校正码 校正存储器 数据校正 数据执行 校正数据 组管理器 算法 引擎 发送 分组 管理 | ||
【主权项】：
1.一种存储器模块，包括：多个存储器芯片，各自包括DQ接触点，所述DQ接触点被分组为对应于校正数据宽度的至少一个DQ组；串行存在检测芯片，其被构造为存储关于所述多个存储器芯片的DQ分组信息；以及额外DQS接触点，其连接至所述至少一个DQ组，所述额外DQS接触点被构造为在错误校正模式下发送信号以基于所述校正数据宽度执行数据校正算法。
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