[发明专利]一种获取器件中子单粒子效应截面的方法及装置有效
| 申请号： | 201810847569.X | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN109214049B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 王群勇 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01R31/265;G01R31/26;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100089 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种获取器件中子单粒子效应截面的方法及装置。方法包括：确定待测器件的类别；根据所述类别对应的中子单粒子效应NSEE截面公式，获取所述待测器件的NSEE截面；其中，所述NSEE截面公式根据样本器件的NSEE截面历史数据拟合得到。本发明实施例提供的方法及装置，不依托于试验数据，仅通过分析样本器件的历史数据，按样本器件的种类进行分类分析，拟合出每一类样本器件的NSEE截面公式，根据待测器件的类别，使用对应的NSEE截面公式，获取待测器件的NSEE截面。具有输入参数少、易于实现的特点，便于工程应用。能够快速获得器件的NSEE截面，有效减少航空电子产品的设计周期，提高其大气中子辐射环境下的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 获取 器件 中子 粒子 效应 截面 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种获取器件中子单粒子效应截面的方法，其特征在于，包括：确定待测器件的类别；根据所述类别对应的中子单粒子效应NSEE截面公式，获取所述待测器件的NSEE截面；其中，所述NSEE截面公式根据样本器件的NSEE截面历史数据拟合得到。
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