[发明专利]测试探针和使用其的测试装置有效
| 申请号： | 201810876569.2 | 申请日： | 2018-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN109387673B | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 朴雄纪 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 韩国釜山市江西*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种用于测试待测试物件的电气特性的测试探针和使用其的测试装置。测试探针包括：第一接触部分；第二接触部分，可接近或远离第一接触部分移动；以及弹性变形部分，使第一接触部分与第二接触部分连接且通过在探针轴线方向上的压缩而弹性地变形，其中第一接触部分和第二接触部分中的至少一个包括由沿纵向方向形成的第一狭缝分离的多个分离接触部分。根据本揭示，多个分离接触部分被配置成独立地接触待测试物件的测试接触点，从而不仅提高接触可靠性而且通过替代分离接触部分来确保接触可靠性，即使分离接触部分中的一个有故障或损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 使用 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试探针，用于测试待测试物件的电气特性，所述测试探针包括：第一接触部分；第二接触部分，可接近或远离所述第一接触部分移动；以及弹性变形部分，使所述第一接触部分与所述第二接触部分连接且通过在探针轴线方向上的压缩而弹性地变形，其中所述第一接触部分和所述第二接触部分中的至少一个包括由沿纵向方向形成的第一狭缝分离的多个分离接触部分。
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