[发明专利]一种解决ALD方式的PERC电池在电注入或光注入后效率降低的方法有效
申请号: | 201810887953.2 | 申请日: | 2018-08-06 |
公开(公告)号: | CN109148643B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 孙涌涛;彭兴;楼杭晓 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 322118 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提出了一种解决ALD方式的PERC太阳能电池在电注入或光注入后效率降低的方法,在现有工艺路线:制绒‑扩散‑刻蚀/背抛‑正面氮化硅膜沉积‑背面ALD方式氧化铝膜沉积‑背面氮化硅膜沉积(PECVD)‑激光开槽‑丝印印刷‑烧结基础上,在背面氮化硅膜沉积工序进行工艺变动,在氮化硅膜制作前,先利用笑气、氨气、硅烷在射频电离下制作一层折射率与背面氧化铝膜接近的氮氧化硅薄膜,然后采用正常工艺制作一层氮化硅膜,完成全部工序,测试电池片在电注入或光注入前后效率差异,发现经电注入或光注入后PERC电池片效率有0.05%‑0.1%的提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 解决 ald 方式 perc 电池 注入 效率 降低 方法 | ||
【主权项】:
1.一种解决ALD方式的PERC电池在电注入或光注入后效率降低的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:第1步:将背面ALD方式氧化铝膜沉积好的硅片插入石墨舟中,然后送入PECVD炉管中,抽真空,升温至工艺设定值;第2步:在低压下通入笑气、氨气、硅烷,开启射频电源,时间60s‑300s,完成氮氧化硅膜制作;第3步:在低压下通入氨气、硅烷,开启射频电源,时间600s‑1000s,完成氮化硅膜制作;第4步:抽真空、充氮气回压、出舟,完成整个工艺。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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