[发明专利]样品中氚的BIXS方法分析装置在审
| 申请号： | 201810889274.9 | 申请日： | 2018-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN109164115A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 朱敬军;安竹;刘慢天;陈浩;张乐 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02 |
| 代理公司： | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人： | 王敏 |
| 地址： | 610044 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种样品中氚的BIXS方法分析装置，其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计；所述真空筒位于操作台上方，所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内，所述探测器安装座滑动设置在导轨上，所述X射线探测器设置在探测器安装座上，所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧，所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。本发明充分利用了β射线与物质相互作用的特点，结构简单、体积小、价格便宜、检测速度快、灵敏度高、且支持在真空及充氩气两种不同情况下进行实验；具有对样品分析无损的特点，且操作简单，对实验人员无伤害的优势；分别选用真空及充氩气两种方法实现对样品的分析；所占空间小，易于移动，对于有氚分析需求的各高校及相关科研单位是一个很理想的选择。 | ||
| 搜索关键词： | 真空筒 操作台 探测器安装座 导轨 电阻真空计 方法分析 充氩气 气压计 样品台 薄膜 滑动设置 科研单位 样品分析 灵敏度 体积小 无损 射线 分析 检测 延伸 伤害 移动 | ||
【主权项】：
1.一种样品中氚的BIXS方法分析装置，其特征在于，其包括操作台、真空筒、导轨、探测器安装座、X射线探测器、样品台、电阻真空计、薄膜气压计；所述真空筒位于操作台上方，所述导轨设置在操作台上方并且位于真空筒内，所述探测器安装座滑动设置在导轨上，所述X射线探测器设置在探测器安装座上，所述样品台设置在操作台上方并且位于真空筒内以及X射线探测器下侧，所述电阻真空计、薄膜气压计分别设置在真空筒的两侧并且延伸至真空筒内。
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