[发明专利]显示面板测试方法及装置、电子设备有效
| 申请号： | 201810892523.X | 申请日： | 2018-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN108919533B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 高吉磊;刘冬;鲁思颖 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李莎;李弘 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种显示面板测试方法及装置、电子设备，包括：获取在显示面板的辅助测试点处测得的公共电压‑参考光学参数值曲线和时间‑参考光学参数值曲线，以及，在显示面板的测试点处测得的电压‑透过率曲线；根据时间‑参考光学参数值曲线和公共电压‑参考光学参数值曲线，得到时间‑实际公共电压曲线；根据电压‑透过率曲线的测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和时间‑实际公共电压曲线，得到测试电压‑电压偏移量曲线；根据测试电压‑电压偏移量曲线，修正电压‑透过率曲线。本发明提出的显示面板测试方法及装置、电子设备，能够得到较为准确的VT曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种显示面板测试方法，其特征在于，包括：获取在显示面板的辅助测试点处测得的公共电压‑参考光学参数值曲线和时间‑参考光学参数值曲线，以及，在显示面板的测试点处测得的电压‑透过率曲线；其中，所述电压‑透过率曲线和所述时间‑参考光学参数值曲线是同时测得的；根据所述时间‑参考光学参数值曲线和所述公共电压‑参考光学参数值曲线，得到时间‑实际公共电压曲线；根据所述电压‑透过率曲线的测试电压与时间的关系，结合初始公共电压和所述时间‑实际公共电压曲线，得到测试电压‑电压偏移量曲线；根据所述测试电压‑电压偏移量曲线，修正所述电压‑透过率曲线。
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