[发明专利]一种扩展测试通道的方法和电路

摘要

本发明公开了一种在非接触卡测试设备上扩展测试通道的方法和电路，特别适用于在多联张非接触智能卡测试设备上实现扩展测试通道。本发明使用模拟开关及匹配和补偿电路将13.56M的RF信号分为多路,同时使用锁存器来控制多个模拟开关，进而实现测试通道的扩展。本发明能够将1路测试通道扩展为多路测试通道，可以降低测试设备的复杂度和成本，并能提高天线线圈上场强的一致性。

主权项

1.一种扩展测试通道的方法，其特征在于，使用所用锁存器控制多个模拟开关芯片将读卡芯片发出的13.56M的RF信号扩展为多路13.56M的RF信号，驱动天线线圈，与非接触卡片传输数据，进行测试，主要步骤为：步骤一、MCU将控制信号传送给锁存器，来控制其中一个或几个锁存器的输出信号；步骤二、锁存器的输出信号传送给模拟开关芯片，使相应的模拟开关芯片处于的导通或关断状态；步骤三、处于关断状态的模拟开关芯片所在的通道，读卡芯片发出的13.56M的RF信号不能通过模拟开关芯片，无法传送到其所对应的天线线圈上，其位置对应的卡片不进行测试；步骤四、处于导通状态的模拟开关芯片所在的通道，读卡芯片发出的13.56M的RF信号经过匹配电路和补偿电路后，可以通过模拟开关芯片，传送到其所对应的天线线圈上，对其位置对应的卡片进行测试。