[发明专利]高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810924939.5 申请日: 2018-08-14
公开(公告)号: CN109164124A 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 沈克;张兆雄;周大庆;杨波 申请(专利权)人: 武汉钢铁有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/2202
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 王和平
地址: 430083 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法,属于冶金材料分析技术领域。该制备方法包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品,还包括将颗粒样品置于高温炉中,缓慢升温至1250±10℃,熔融10~20min,得到熔体,再将熔体倒入预先加热至200~400℃的模具中,自然冷却至室温,得到玻璃状样品。本发明设计的制样方法简单可行,相比于传统的粉末压片法,能够在较大程度上节省人力及物力,且制备的漂移校正样品质地均匀,外观完整,稳定性高,使用寿命达半年以上,显著提高了高炉渣、真空渣及真空精炼渣的测量过程稳定性,大大降低了因样品变质引起的分析波动,提高产品测定结果的准确性。
搜索关键词: 制备 漂移 真空精炼 高炉渣 校正 颗粒样品 转炉渣 熔体 粉末压片法 测量过程 产品测定 缓慢升温 炉渣样品 使用寿命 外观完整 样品质地 冶金材料 研磨 玻璃状 传统的 高温炉 粉粹 熔融 制样 加热 模具 变质 分析
【主权项】:
1.一种高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法,包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品,其特征在于:还包括将所述颗粒样品置于高温炉中,缓慢升温至1250±10℃,熔融10~20min,得到熔体,再将所述熔体倒入预先加热至200~400℃的模具中,自然冷却至室温,得到玻璃状样品。
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