[发明专利]一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201810929861.6 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN109115343B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 方雪晓;许业昌;黄燕;朱魁章 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十六研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/02 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 奚华保 |
| 地址： | 230088 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种低温制冷机低温参数测量装置及其测量方法。该装置包括贴在制冷机冷头上的激光发热片、罩设在制冷机冷头外侧的测试真空罩、安装在测试真空罩顶部的光学窗口以及位于光学窗口上方的激光发射器和红外测温仪；所述光学窗口依次设置的用于激光完全透过的光学窗口和用于红外光完全透过的光学窗口；所述激光发热片上涂敷有激光吸收材料。本发明能够解决现有技术中的不足，实现制冷机低温参数的无线测量和远距离测量，具有测量过程简单、测量精度高等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 制冷机 参数 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种低温制冷机低温参数测量装置，其特征在于：包括贴在制冷机冷头上的激光发热片、罩设在制冷机冷头外侧的测试真空罩、安装在测试真空罩顶部的光学窗口以及位于光学窗口上方的激光发射器和红外测温仪；所述光学窗口包括依次设置的用于激光完全透过的光学窗口和用于红外光完全透过的光学窗口；所述激光发热片上涂敷有激光吸收材料。
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