[发明专利]一种NVMe SSD热插拔的测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810948353.2 申请日: 2018-08-20
公开(公告)号: CN109189621A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 亓浩;赵帅;肖占慧;孙昊;姜洪正 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 450018 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 本申请提供了一种NVMe SSD热插拔的测试方法,应用于主机,包括:S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平,以模拟所述NVMe SSD插入,获取插入测试数据;S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出,获取拔出测试数据;S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数;若是,则返回S1。该方法能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMe SSD热插拔测试数据,进而更加准确判定主机中热插拔系统的可靠性,且能减少热插拔测试中NVMe SSD的损耗,提高数据中心的竞争力。本申请还提供一种NVMe SSD热插拔的测试系统、设备及计算机可读存储介质,均具有上述有益效果。
搜索关键词: 热插拔 拔出 热插拔测试 测试数据 主机 计算机可读存储介质 测试方法及系统 测试数据对应 热插拔系统 测试 测试系统 接口引脚 数据中心 低电平 高电平 上引 预设 申请 判定 返回 应用
【主权项】:
1.一种NVMe SSD热插拔的测试方法,应用于主机,其特征在于,包括:S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平,以模拟所述NVMe SSD插入,获取插入测试数据;其中,所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中;S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出,获取拔出测试数据;S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数;若是,则返回S1。
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