[发明专利]测试系统及其方法在审
| 申请号： | 201810953000.1 | 申请日： | 2018-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110850268A | 公开（公告）日： | 2020-02-28 |
| 发明（设计）人： | 赖志强 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧;汤在彦 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种测试系统及其方法，该测试系统用以测试待测装置，其中待测装置包括多个待测电路，测试系统包括：探针卡、测试设备以及控制器。探针卡包括多个探针，探针是电性耦接至待测电路。测试设备固持探针卡，并通过探针卡测试待测电路。控制器控制测试设备，并执行测试程序。测试程序包括：量测探针卡与待测电路的每一者的接触电阻；决定接触电阻的统计数值；判断统计数值是否超过第一阈值；当统计数值不超过第一阈值时，设定清针指标为第一状态；当统计数值超过第一阈值时，设定清针指标为第二状态；以及根据清针指标，对探针执行清针程序。本发明的测试方法有效的维持探针与待测电路之间良好的接触品质，进而减少良品率的损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华邦电子股份有限公司，未经华邦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810953000.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种里印墨用颜料紫及制备方法
- 下一篇：一种基于移动端技术的钻孔编录方法
