[发明专利]一种电子设备安装精度的测量方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 201810956255.3 | 申请日： | 2018-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN109084715A | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 薛兵 | 申请（专利权）人： | OPPO广东移动通信有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 刘恋;张颖玲 |
| 地址： | 523860 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电子设备安装精度的测量方法，电子设备能够安装第一基板和第二基板，第一基板与第二基板相对粘结，该方法包括：第一基板与第二基板分离后，在第一基板上检测第一基板的至少两个第一对接点以及至少两个第二对接痕迹；其中，第二对接痕迹为第一基板与第二基板分离时第二基板在第一基板上留下的粘结痕迹；基于至少两个第一对接点确定第一基板上的第一轮廓，基于至少两个第二对接痕迹确定第一基板上的第二轮廓；基于第一轮廓以及第二轮廓之间的偏移参数，确定电子设备的安装精度。本发明实施例还公开了一种测量装置及存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 第一基板 第二基板 电子设备安装 存储介质 电子设备 对接点 测量 测量装置 偏移参数 粘结痕迹 粘结 检测 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备安装精度的测量方法，所述电子设备能够安装第一基板和第二基板，所述第一基板与所述第二基板相对粘结，其特征在于，所述方法包括：所述第一基板与所述第二基板分离后，在所述第一基板上检测所述第一基板的至少两个第一对接点以及至少两个第二对接痕迹；其中，所述第二对接痕迹为所述第一基板与第二基板分离时第二基板在第一基板上留下的粘结痕迹；基于所述至少两个第一对接点确定第一基板上的第一轮廓，基于所述至少两个第二对接痕迹确定第一基板上的第二轮廓；基于所述第一轮廓以及第二轮廓之间的偏移参数，确定所述电子设备的安装精度。
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