[发明专利]一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质有效
| 申请号： | 201810967274.6 | 申请日： | 2018-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN109117406B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 刘胜 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F13/40 | 分类号： | G06F13/40 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 韩洪淼 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种PCIE热拔插测试方法、装置、终端及存储介质，所述方法包括：利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；获取所述测试卡的状态信息。通过利用中间接口连接PCIE接口和测试卡，并通过控制中间接口的加载和卸载来模拟热拔插，从而实现对PCIE的自动热拔插测试。本发明无需执行关掉所有应用和测试程序、更好测试卡并重新上电等繁琐操作，只需控制中间接口的驱动状态即可，操作简单，提高测试效率节省了大量测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 热拔插 测试 方法 装置 终端 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种PCIE热拔插测试方法，其特征在于，所述方法包括：利用中间接口连接PCIE接口和测试卡；设置包括通电模拟状态和断电模拟状态的测试周期；控制所述中间接口在通电模拟状态加载驱动并在断电模拟状态卸载驱动；获取所述测试卡的状态信息。
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