[发明专利]一种分列式电容阵列结构SAR ADC在审
| 申请号： | 201810968399.0 | 申请日： | 2018-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN108923786A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 徐代果;王健安;陈光炳;付东兵;王育新;徐世六;张正平;袁浚;胡蓉彬 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 主分类号： | H03M1/38 | 分类号： | H03M1/38;H03M1/00 |
| 代理公司： | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人： | 王海军 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明属于模拟或数模混合集成电路技术领域，涉及一种分列式电容阵列结构SAR ADC，所述SAR ADC包括高位电容阵列、低位电容阵列以及比较器；所述高位电容阵列和低位电容阵列之间通过一个单位电容相连，高位电容阵列各个电容的上极板均连接采样开关对输入信号Vin进行采样，同时其上极板也连接比较器的输入端，高位电容阵列各个电容的下级板分别通过高位开关阵列连接基准电压VREFP或者VREFN；低位电容阵列各个电容的上极板通过接地开关SP与地相连，低位电容阵列各个电容的下级板分别通过低位开关阵列连接基准电压VREFP或者VREFN。本发明提高了整个电容阵列的匹配精度，提升了SAR ADC的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 电容阵列 电容 低位 上极板 分列式 基准电压 阵列连接 比较器 数模混合集成电路 采样开关 单位电容 低位开关 高位开关 接地开关 下级 输入端 采样 匹配 | ||
【主权项】：
1.一种分列式电容阵列结构SAR ADC，其特征在于，所述SAR ADC包括高位电容阵列、低位电容阵列以及比较器；所述高位电容阵列和低位电容阵列之间通过一个单位电容相连，高位电容阵列各个电容的上极板均连接采样开关对输入信号Vin进行采样，同时其上极板也连接比较器的输入端；高位电容阵列各个电容的下级板分别通过高位开关阵列连接基准电压VREFP或者VREFN；低位电容阵列各个电容的上极板通过接地开关SP与地相连，低位电容阵列各个电容的下级板分别通过低位开关阵列连接基准电压VREFP或者VREFN；比较器的另一个输入端接地；其输出端控制高位开关阵列和低位开关阵列的状态。
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