[发明专利]一种测试SSD最优OP容量的方法

摘要

本发明提供了一种测试SSD最优OP容量的方法，包括步骤：搭建测试样机；开机启动上述所搭建的测试样机进入Linux操作系统，分别获取各待测SSD的SN号和盘位顺序，并依盘位顺序递增的顺序，对应记录到设备表中；依据预先设定的测试策略，分别重置所述设备表中每条记录各自对应待测SSD的OP容量；对所有待测SSD执行性能测试；汇集各待测SSD的性能测试结果，并将汇集的各性能测试结果进行对比，并依据对比结果获取当前型号的SSD的最优性能测试结果；之后依据该获取的当前型号的SSD的最优性能测试结果，对应获取当前型号的SSD的最优性能及该最优性能对应的最优OP容量。本发明用于提高测试速率和测试的准确度。

主权项

1.一种测试SSD最优OP容量的方法，其特征在于，包括步骤：（1）搭建测试样机，该所搭建的测试样机内安有N颗待测SSD以及至少一非SSD存储设备，任意的一个非SSD存储设备中安有Linux操作系统，其中所述的N颗待测SSD型号相同，并且N≥2；（2）开机启动上述所搭建的测试样机进入Linux 操作系统，分别获取上述N颗待测SSD的SN号和盘位顺序，并依盘位顺序递增的顺序，对应记录到设备表中；（3）依据预先设定的测试策略，分别重置所述设备表中每条记录各自对应待测SSD的OP容量；（4）对所有待测SSD执行性能测试；（5）汇集步骤（4）中各待测SSD的性能测试结果，并将汇集的各性能测试结果进行对比，并依据对比结果获取当前型号的SSD的最优性能测试结果；（6）依据步骤（5）中获取的当前型号的SSD的最优性能测试结果，对应获取当前型号的SSD的最优性能及该最优性能对应的OP容量，该最优性能对应的OP容量即为所要测试的当前型号的SSD的最优OP容量。