[发明专利]裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法、设备、介质及系统

摘要

本发明提供裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，包括步骤：接收到位信号，采集裸电芯图像，检测裸电芯外观尺寸，查找参数坐标，计算坐标距离，极片纠偏。本发明涉及电子设备与可读存储介质，用于执行上述方法。本发明还涉及裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测系统。本发明实现自动检测裸电芯外观尺寸，对检测到有缺陷的裸电芯进行剔除，裸电芯外观尺寸的测量准确性高，能够满足日益增进的电芯设计高精度要求；通过分析检测到的图像，检测极片的阳极与阴极间距、阳极与隔膜间距，对有缺陷的极片进行单卷，对无缺陷但间距有偏差的极片进行卷绕纠偏，解决了卷绕过程中极片的阳极与阴极间距、阳极与隔膜间距检测与纠偏问题，保证了电芯卷绕的质量。

主权项

1.裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法，其特征在于包括以下步骤：接收到位信号，接收第一裸电芯到位信号，并根据所述第一裸电芯到位信号控制裸电芯移位装置移动裸电芯至检测位置；采集裸电芯图像，接收第二裸电芯到位信号，并根据所述第二裸电芯到位信号发送采集信号至图像采集装置进行图像采集，得到裸电芯图像；检测裸电芯外观尺寸，通过定位参数在所述裸电芯图像上查找裸电芯位置，在所述裸电芯位置处对裸电芯极耳间距、裸电芯宽度进行测量，判断所述裸电芯极耳间距、裸电芯宽度是否在阈值内，是则裸电芯外观尺寸正常，否则裸电芯外观尺寸异常；查找参数坐标，获取采集的极片图像，通过测量算法查找所述极片图像中隔膜坐标、阳极坐标、阴极坐标；计算坐标距离，将所述隔膜坐标与所述阳极坐标组合，并计算所述隔膜坐标与所述阳极坐标之间的距离，将所述隔膜坐标与所述阴极坐标组合，并计算所述隔膜坐标与所述阴极坐标之间的距离；极片纠偏，分别判断所述隔膜坐标与所述阳极坐标之间的距离、所述隔膜坐标与所述阴极坐标之间的距离与纠偏系统数据是否有偏差，是则计算偏差距离并发送至自动卷绕机的控制器控制纠偏机构进行卷绕纠偏。