[发明专利]一种三维存储器的制造方法有效
申请号: | 201811011692.4 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN109103195B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 黄新运;王颀;付祥;夏志良;张黄鹏;曹华敏 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11563 | 分类号: | H01L27/11563;H01L27/1157;H01L27/1158 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 赵秀芹;王宝筠 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请公开了一种三维存储器的制造方法,由该方法制成的存储器中,其每个沟道孔内的第一掺杂类型材料层和第二掺杂类型材料层作为对应存储串的各个存储单元的源极和漏极,同一存储串内的各个存储单元均可以通过源极和漏极实现电路通路,因而,通过同一沟道孔内的第一掺杂类型材料层和第二掺杂类型材料层能够将同一存储串内的各个存储单元形成并联结构。如此,在每个存储单元的栅极上施加较小的控制电压即可实现对存储单元的选通,而且,因同一存储串内的各个存储单元为并联结构。因而,该三维存储器的结构有利于降低三维存储器中的读取干扰、传输干扰和编辑干扰。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 存储器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种三维存储器的制造方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底上形成有堆叠结构,所述堆叠结构包括若干层间隔设置的栅极层;形成贯穿所述堆叠结构的沟道孔;在所述沟道孔的侧壁上形成存储器层;沿所述存储器层的径向内侧依次形成第一掺杂类型材料层和第二掺杂类型材料层;所述第一掺杂类型材料层、第二掺杂类型材料层接触;所述第一掺杂类型材料层和所述第二掺杂类型材料层中,一个为源极,另一个为漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的