[发明专利]用于确定故障DUT天线的方法以及测量系统在审
| 申请号： | 201811018336.5 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN110873825A | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 亚当·坦凯伦;科比特·罗威尔 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 王小衡;胡彬 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种通过采用测量天线阵列(12)来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差以确定故障DUT天线(14)的方法。经由所述测量天线阵列(12)在被分配给至少两个DUT天线(14)的区域中设置第一预定耦合分布(22)。测量用于第一耦合分布(22)的至少一个操作参数。然后，经由所述测量天线阵列(12)在被分配给至少两个DUT天线(14)的区域中设置第二预定耦合分布(24)。测量用于第二耦合分布(24)的至少一个操作参数，并且基于至少一个操作参数的测量结果来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差。此外，公开了一种测量系统(10)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 故障 dut 天线 方法 以及 测量 系统 | ||
【主权项】：
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