[发明专利]一种AEP内存DC测试方法及装置在审
| 申请号： | 201811038514.0 | 申请日： | 2018-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN109240864A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 贠雄斌 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 刘雪萍 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种AEP内存DC测试方法及装置，包括：设置AEP内存初始参数；利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机；扫描所述AEP内存的测试参数；根据所述初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态；利用脚本对所述测试机台进行关机操作。本发明可以自动对AEP内存进行DC测试，无需人工进行操作，提高了测试效率和准确率，同时也节省了大量时间和人力。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试参数 测试机台 初始参数 测试效率 性能状态 控制机 关机 脚本 准确率 开机 扫描 申请 | ||
【主权项】：
1.一种AEP内存DC测试方法，其特征在于，所述方法包括：设置AEP内存初始参数；利用控制机对装有AEP内存的测试机台进行开机；扫描所述AEP内存的测试参数；根据所述初始参数和所述测试参数获取所述AEP内存的性能状态；利用脚本对所述测试机台进行关机操作。
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