[发明专利]存储器电路及其数据比特状态检测器有效
| 申请号： | 201811042607.0 | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN110890124B | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 林哲逸;何文乔 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 吴志红;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器电路及其数据比特状态检测器。数据比特状态检测器包括感测放大电路、数据接收电路以及参考电路。感测放大电路具有第一感测输入端以及第二感测输入端。感测放大电路感测并放大第一感测输入端上的第一阻抗以及第二感测输入端上的第二阻抗的差值，以产生感测输出信号。数据接收电路接收数据信号的多个比特，并依据数据信号的比特在第一感测输入端与参考接地端间提供第一阻抗。参考电路接收多个偏压电压，并依据偏压电压在第二感测输入端与参考接地端间提供第二阻抗。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 电路 及其 数据 比特 状态 检测器 | ||
【主权项】：
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