[发明专利]微断裂发育位置的确定方法和装置有效

专利信息
申请号: 201811049433.0 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN110888163B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 敬兵;杨海军;谢会文;彭更新 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘丹;黄健
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种微断裂发育位置的确定方法和装置,该方法包括:根据目标地层的多个地震剖面中每个地震剖面对应的地震成果层位解释曲线,获取目标地层的平面构造图,平面构造图用于表示目标地层中每个位置的相对高度值,相对高度值为相对于目标地层的零平面的高度值;对平面构造图进行平滑处理,获取平滑后的平面构造图;根据平面构造图和平滑后的平面构造图,获取目标地层对应的差值平面构造图;根据差值平面构造图,获取目标地层的微断裂发育位置。本发明根据目标地层的平面构造图和平滑后的平面构造图之间形成的差值平面构造图,能够有效地获取微断裂发育位置。
搜索关键词: 断裂 发育 位置 确定 方法 装置
【主权项】:
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